隨著半導體技術的不斷發(fā)展，對工藝技術的要求越來越高，特別是對半導體圓片的表面質量要求越來越嚴，其主要原因是圓片表面的顆粒和金屬雜質沾污會嚴重影響器件的質量和成品率，在目前的集成電路生產(chǎn)中，由于圓片表面沾污問題，仍有50%以上的材料被損失掉。

1.4 生產(chǎn)環(huán)境的影響作為藥品生產(chǎn)質量控制系統(tǒng)的重要組成部分，輸液生產(chǎn)企業(yè) HVAC 系統(tǒng)主要通過對環(huán)境的空氣濕度、溫度、懸浮粒子、微生物等的控制和監(jiān)控，確保環(huán)境參數(shù)等符合生產(chǎn)條件，否則環(huán)境參數(shù)不合格則會 對輸液產(chǎn)品內的不溶性微粒產(chǎn)生影響。1.5 生產(chǎn)過程的影響配制和灌裝系統(tǒng)是影響不溶性微粒的主要環(huán)節(jié)，控制配制和灌

不溶性微粒檢查儀對大輸液的顆粒管控，遵循中國藥典2020版附錄C0903不溶性微粒檢查法的不溶性微粒檢查，同時可以進行在線過程質量控制和產(chǎn)品評價。

?近日，英國普洛帝分析測試集團顆粒計數(shù)事業(yè)部（不溶性微粒）宣布推出其在藥品檢測方面的新型PLD-601系列不溶性微粒檢測儀及配套自動取樣系統(tǒng)（涵蓋試劑和耗材），PLD-601系列不溶性微粒檢測儀的推出是PULUODY落實其新品開發(fā)計劃的標志性里程碑，并且將公司液體顆粒檢測的應用延伸到生命科學和醫(yī)藥檢測領域。

水中顆粒計數(shù)器,水中顆粒計數(shù)儀,在線顆粒計數(shù)儀,水中顆粒監(jiān)測儀

清劑產(chǎn)生液體顆粒污染主要原因及管控辦法清劑化學品雜質來源主要由以下幾種方式引入：一是原料帶入。即需要凈化的原料本身的雜質；二是外界引入。由于高純電子級酸多具有強腐蝕性,在實驗和存貯過程中接觸的器皿如不銹鋼設備 、管道 、泵閥 、螺絲等，塑料設備和包裝存貯材料(往往含有增塑劑增強劑&

隨著科技和現(xiàn)代工業(yè)的進步與發(fā)展，許多行業(yè)對工作 介質(氣體和液體)以及生產(chǎn)環(huán)境的潔凈度(污染度)檢 測提出了越來越高的要求。為了定量描述介質的清潔程度， 世界上很多國家都制定了潔凈度檢測和控制標準，將介質 中微小顆粒污染物的數(shù)量和粒徑大小作為衡量其潔凈度的 重要指標。檢測液體介質中顆粒的方法有很多，有間接通